Моделирование повреждений в полиэтилене вдоль траекторий быстрых тяжелых ионов
- Авторы: Бабаев П.А.1, Воронков Р.А.1, Волков А.Е.1,2
- 
							Учреждения: 
							- Физический институт имени П.Н. Лебедева РАН
- Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
 
- Выпуск: № 4 (2025)
- Страницы: 56-62
- Раздел: Статьи
- URL: https://rjpbr.com/1028-0960/article/view/689153
- DOI: https://doi.org/10.31857/S1028096025040081
- EDN: https://elibrary.ru/FCAVCS
- ID: 689153
Цитировать
Полный текст
 Открытый доступ
		                                Открытый доступ Доступ предоставлен
						Доступ предоставлен Доступ платный или только для подписчиков
		                                							Доступ платный или только для подписчиков
		                                					Аннотация
Представлены результаты моделирования образования на атомарном уровне повреждений вдоль всей траектории быстрых тяжелых ионов, тормозящих в режиме электронных потерь энергии в полиэтилене. Аналитические модели могли бы значительно улучшить понимание формирования треков в полимерах, но имеют своим главным недостатком низкий уровень детализации. В настоящей работе эта проблема решена с использованием мультимасштабной гибридной численной модели: методом Монте-Карло с помощью программы TREKIS описано возбуждение электронной системы материала; молекулярно-динамическое моделирование отклика атомной системы на внесенное налетающим ионом возмущение, реализованное в программе LAMMPS, позволило отслеживать повреждение вплоть до времен полного остывания трека. Детальное описание кинетики взаимодействующих электронной и атомной систем материала позволило продемонстрировать пространственное разделение положений максимумов повреждений и максимумов выделения энергии на траектории иона в полиэтилене на, по меньшей мере, 10 мкм. Различия обусловлены зависимостью начальных спектров электронов, генерируемых вблизи траектории иона, от энергии иона. Продемонстрированные эффекты должны проявляться в любых полимерах и могут иметь решающее значение для эффективной работы облучаемых быстрыми тяжелыми ионами устройств и детекторов, содержащих тонкие полимерные пленки.
Ключевые слова
Полный текст
 
												
	                        Об авторах
П. А. Бабаев
Физический институт имени П.Н. Лебедева РАН
							Автор, ответственный за переписку.
							Email: babaevpa@lebedev.ru
				                					                																			                												                	Россия, 							Москва						
Р. А. Воронков
Физический институт имени П.Н. Лебедева РАН
														Email: babaevpa@lebedev.ru
				                					                																			                												                	Россия, 							Москва						
А. Е. Волков
Физический институт имени П.Н. Лебедева РАН; Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
														Email: babaevpa@lebedev.ru
				                					                																			                												                	Россия, 							Москва; Москва						
Список литературы
- Zhao S., Zhang G., Shen W., Wang X., Liu F. // J. Appl. Phys. 2020. V. 128. № 13. P. 131102. https://www.doi.org/10.1063/5.0015975
- Komarov F.F. // Physics-Uspekhi. 2017. V. 60. № 5. P. 435. https://www.doi.org/10.3367/ufne.2016.10.038012
- Medvedev N., Volkov A.E., Rymzhanov R., Akhmetov F., Gorbunov S., Voronkov R., Babaev P. // J. Appl. Phys. 2023. V. 133. № 10. P. 8979. https://www.doi.org/10.1063/5.0128774
- Liu F., Wang M., Wang X., Wang P. // Nanotechnology. 2018. V. 30. № 5. P. 052001. https://www.doi.org/10.1088/1361-6528/aaed6d
- Apel P. // Radiat. Phys. Chem. 2019. V. 159. P. 25. https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2019.01.009
- Fink D. // Springer Science & Business Media. 2004. V.63.
- Husaini S., Zaidi J., Malik F., Arif M. // Radiat. Meas. 2008. V. 4. P. S607. https://doi.org/10.1016/j.radmeas.2008.03.070
- Tuleushev A., Harrison F., Kozlovskiy A., Zdorovets M. // Polymers. 2023. V.15 №20. P. 4050. https://doi.org/10.3390/polym15204050
- Balanzat E., Betz N., Bouffard S. // Nucl Instrum Methods Phys Res B . 1995. V. 105. P.46. https://doi.org/10.1016/0168-583X(95)00521-8
- Shen W., Wang X., Zhang G., Kluth P., Wang Y., Liu F. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2023. V. 535. P. 102. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2022.11.021
- Kański M., Dawid M., Postawa Z., Ashraf M.C., van Duin A.C.T., Garrison B.J. // J. Phys. Chem. Lett. 2018. V. 9. Iss. 2. P. 359. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpclett.7b03155
- Kański M., Hrabar S., van Duin A.C.T., Postawa Z. // J. Phys. Chem. Lett. 2022. V. 13. Iss. 2. P. 628. https://www.doi.org/10.1021/acs.jpclett.1c03867
- Medvedev N.A., Rymzhanov R.A., Volkov A.E. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2015. V. 48. № 35. P. 355303. https://www.doi.org/10.1088/0022-3727/48/35/355303
- Rymzhanov R.A., Medvedev N.A., Volkov A.E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2016. V. 388. P. 41. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2016.11.002
- Van Hove L. // Phys. Rev. 1954. V. 95. № 1. P. 249. https://www.doi.org/10.1103/PhysRev.95.249
- Palik E.D. Handbook of optical constants of solids. Academic press, 1997. 2008 p.
- Henke B.L., Gullikson E.M., Davis J.C. // Atomic data and nuclear data tables. 1993. V. 54. № 2. P. 181. https://www.doi.org/10.1006/adnd.1993.1013
- Ritchie R.H., Howie A. // Philos. Mag. 1977. V. 36. № 2. P. 463. https://www.doi.org/10.1080/14786437708244948
- Adachi S. The Handbook on Optical Constants of Semiconductors: In Tables and Figures. Singapore: World Scientific Publishing Company, 2012. 632 p.
- Powell C.J., Jablonski A. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 1999. V. 28. № 1. P. 19. https://www.doi.org/10.1063/1.556035
- Jablonski A., Powell C.J. // J. Electron Spectros Relat. Phenomena. 2015. V. 199. P. 27. https://www.doi.org/10.1016/j.elspec.2014.12.011
- Ziegler J.P., Biersack U., Littmark J.F. The Stopping and Range of Ions in Solids. New York: Pergamon Press, 1985. 321 p.
- Medvedev N., Babaev P., Chalupský J., Juha L., Volkov A.E. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2021. V. 23. № 30. P. 16193. https://www.doi.org/10.1039/D1CP02199K
- Jo S., Kim T., Iyer V.G., Im W. // J. Comput. Chem. 2008. V. 29. № 11. P. 1859. https://www.doi.org/10.1002/jcc.20945
- Abbott L.J., Hart K.E., Colina C.M. // Theor. Chem. Acc. 2013. V. 132. P. 1. https://www.doi.org/10.1007/s00214-013-1334-z
- Shirazi M.M.H., Khajouei-Nezhad M., Zebarjad S.M., Ebrahimi R. // Polym. Bull. 2020. V. 77. P. 1681. https://www.doi.org/10.1007/s00289-019-02827-7
- Berendsen H.J.C., Postma J.P.M., Gunsteren W.F., DiNola A., Haak J.R. // J. Chem. Phys. 1984. V. 81. № 8. P. 3684. https://www.doi.org/10.1063/1.448118
- Plimpton S. // J. Comput. Phys. 1995. V. 117. № 1. P. 1. https://www.doi.org/10.1006/jcph.1995.1039
- O′Connor T.C., Andzelm J., Robbins M. // J. Chem. Phys. 2015. V. 142. № 2. P. 024903. https://www.doi.org/10.1063/1.4905549
- Stukowski A. // Modelling Simul. Mater. Sci. Eng. 2009. V. 18. № 1. P. 015012. https://www.doi.org/10.1088/0965-0393/18/1/015012
- Rymzhanov R.A., Gorbunov S.A., Medvedev N., Volkov A.E. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2019. V. 440. P. 25. https://www.doi.org/10.1016/j.nimb.2018.11.034
- Rymzhanov, R.A., Medvedev, N., Volkov, A.E. // J. Mater Sci. 2023. V. 58. P. 14072. https://www.doi.org/10.1007/s10853-023-08898-2
Дополнительные файлы
 
				
			 
						 
						 
						 
					 
						 
									

 
  
  
  Отправить статью по E-mail
			Отправить статью по E-mail 






