Описание прототипа считывающей электроники для емкостных детекторов
- 作者: Аткин Э.В.1, Норманов Д.Д.1, Ямалиев С.И.1, Серазетдинов А.Р.1, Солин А.А.2, Усенко Е.А.3
- 
							隶属关系: 
							- Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
- Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета
- Институт ядерных исследований Российской академии наук
 
- 期: 编号 5 (2024)
- 页面: 85-91
- 栏目: ЭЛЕКТРОНИКА И РАДИОТЕХНИКА
- URL: https://rjpbr.com/0032-8162/article/view/682626
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816224050093
- EDN: https://elibrary.ru/ETUEEI
- ID: 682626
如何引用文章
详细
Представлено описание прототипа считывающей электроники для емкостных детекторов на основе специализированной интегральной микросхемы (СИМС), разработанной специально для съема и предварительной обработки сигналов c плоских резистивных камер эксперимента SPD на строящемся коллайдере НИКА ОИЯИ (г. Дубна). Восьмиканальная микросхема оптимизирована для работы с детекторами, имеющими характеристический импеданс считывающих электродов в диапазоне 35–110 Ом при приведенном ко входу эквивалентном малом шумовом заряде не более 2500 электронов. В СИМС предусмотрены регулировки порога по величине приведенного ко входу заряда в диапазоне 10–450 фКл, гистерезиса пороговой характеристики в диапазоне 0–12%, а также времени расширения сигнала в диапазоне 0.5–100 нс. Схема была оптимизирована для уменьшения джиттера по переднему фронту (менее 10 пс) и энергопотребления (менее 25 мВт на один канал). Представлены структурная и электрическая схемы, показаны результаты моделирования ключевых сложно-функциональных блоков и общий вид топологии спроектированной СИМС.
全文:
 
												
	                        作者简介
Э. Аткин
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
							编辑信件的主要联系方式.
							Email: evatkin@mephi.ru
				                					                																			                												                	俄罗斯联邦, 							115409, Москва, Каширское ш., 31						
Д. Норманов
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
														Email: evatkin@mephi.ru
				                					                																			                												                	俄罗斯联邦, 							115409, Москва, Каширское ш., 31						
С. Ямалиев
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
														Email: evatkin@mephi.ru
				                					                																			                												                	俄罗斯联邦, 							115409, Москва, Каширское ш., 31						
А. Серазетдинов
Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
														Email: evatkin@mephi.ru
				                					                																			                												                	俄罗斯联邦, 							115409, Москва, Каширское ш., 31						
А. Солин
Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета
														Email: solin@hep.by
				                					                																			                												                	白俄罗斯, 							220006, Минск, ул. Бобруйская, 11						
Е. Усенко
Институт ядерных исследований Российской академии наук
														Email: Eugueni.oussenko@cern.ch
				                					                																			                												                	俄罗斯联邦, 							117312, Москва, просп. 60-летия Октября, 7а						
参考
- Anghinolfi F., Jarron P., Krummenacher F., Usenko E., Williams M.C.S. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2004. V. 51. №. 5. P.1974. http://doi.org/10.1109/TNS.2004.836048
- Wong W.S., Alozy J., Ballabriga R. et al. // Radiat. Meas. 2020. V. 131. P. 106230. http://doi.org/10.1016/j.radmeas.2019.106230
- Atkin E., Azarov D., Ivanov P., Normanov D., Serazetdinov A., Shumikhin V. // Russ. Microelectron. 2022. V. 51. P. 111. http://doi.org/10.1134/S1063739722020032
- Shumikhin V., Atkin E., Azarov D., Ivanov P., Normanov D., Serazetdinov A. // J. Phys. Conf. Ser. 2020. V. 1690. № 1. P. 012068. http://doi.org/10.1088/1742-6596/1690/1/012068
- Atkin E., Azarov D., Ivanov P., Normanov D., Serazetdinov A., Shumikhin V. // J. Phys. Conf. Ser. 2020. V. 1690. P. 012072. http://doi.org/10.1088/1742-6596/1690/1/012072
- Atkin E., Bulbakov I., Malankin E., Ivanov P., Normanov D., Petrovskiy S., Shumikhin V., Ivanov V., Voronin A., Samsonov V. // IEEE 30th International Conference on Microelectronics (MIEL). 2017. P. 225. http://doi.org/10.1109/MIEL.2017.8190108
- Ciobanu M., Marghitu O., Constantinescu V. et al. // IEEE Trans Nucl Sci. 2021. V. 68. № 6. P. 1325. http://doi.org/10.1109/TNS.2021.3073487
补充文件
 
				
			 
						 
						 
					 
						 
						

 
  
  
  电邮这篇文章
			电邮这篇文章 
 开放存取
		                                开放存取 ##reader.subscriptionAccessGranted##
						##reader.subscriptionAccessGranted##









